- Подробности
- Категория: Новости
- Создано 24.01.2011 16:43
Zeiss Merlin - сканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом, колонной электронной оптики GEMINI-II и безмаслянной вакуумной системой.
Помимо детекторов вторичных электронов In-lens SE и SE2, микроскоп оснащен четырехквадрантным детектором обратно-рассеянных электронов (AsB) и детектором обратно-рассеянных электронов с фильтрацией по энергиям (EsB).
Аналитические возможности микроскопа расширены дополнительными приставками для рентгеновского микроанализа Oxford Instruments INCAx-act и системой регистрации дифракции обратнорассеянных электронов (EBSD) Oxford Instruments CHANNEL5.
На новый микроскоп установлены системы рентгеновского микроанализа INCA X-act и регистрации дифракции отраженных электронов HKL CHANNEL5, ранее использовавшиеся совместно с СЭМ SUPRA-40.