- Подробности
- Категория: Новости
- Создано 30.12.2010 11:19
Установлено дополнительное оборудование для подготовки образцов:
- Полуавтоматический станок шлифовки и полировки Buehler Minimet:
Buehler Minimet 1000. Полуавтоматический станок для шлифовки и полировки образцов размером до 25 мм
- Регулировка скорости вращения образца - 10 - 50 об/сек
- Регулировка времени вращения образца - 0,5 - 9 мин
- Регулировка нагрузки на образец - 0 -20 кг
Расходные материалы:
- Шкурки 72мм Ø с зерном – 15/ 12/ 6,5 мкм
- Ткани 72мм Ø разной плотности
- Шлифовальные пасты - 3/ 1 мкм
- Полировальные суспензии - 6/ 3/ 1/ 0,06/ 0,02 мкм
Приставки:
- Держатель образца
- Устройство для электромеханической полировки
- Устройство для прецизионных тонких шлифов (ПЭМ пробоподготовка)
- Система прецизионной механической подготовки поверхности образцов Leica EM TXP:
Leica EM TXP. Универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности образов зеркального качества для ПЭМ, СЭМ и ОМ.
- Шаг фрезы - 0,5; 1; 10; 100 микрон (координаты x,y)
- Скорость вращения фрезы – 300 – 20000 об / мин
- Регулировка угла наклона держателя образцов - 0° - 60° (по отношению к оси вращения фрезы)
- Автоматическое управление процессами через сенсорный экран
- Бинокулярный микроскоп с масштабной сеткой для наблюдения In-situ
Производимые операции:
- фрезеровка
- резка
- шлифовка
- полировка
Сменные инструменты:
- Алмазное сверло для изготовления дисков - 3мм Ø
- Фреза с алмазным наконечником - 12 мм Ø
- Фреза с карбид вольфрамовым наконечником – 12 мм Ø
- Алмазный диск - 30 мм Ø
- CBN диск для резки стали - 30 мм Ø
- Шкурки и ткани 30 мм Ø для полировки и шлифовки
- Шкурки с зерном – 15/ 9/ 6/ 3/ 1/ 0,5/ 0,3/ 0,1 мкм
- Ткань для окончательной полировки (используется с полировочной пастой)
Держатели образов:
- Универсальный держатель для образов 3-8 мм
- Плоский держатель, диапазон зажима: 0-4 мм
- Держатель с адаптером регулировки угла
- Автоматическая система криофиксации образцов Leica EM GP:
Leica EM GP. Автоматическая система криофиксации образцов для ПЭМ и СЭМ.
Позволяет фиксировать жидкости или жидкую матрицу в некристаллической фазе (аморфный лед). В том числе биологические суспензии и эмульсии на основе воды или неорганических растворов.
Автоматическое управление через сенсорный экран, позволяет воспроизводимые процессы в контролируемой среде образца.
Бинокулярный микроскоп с масштабной сеткой для наблюдения In-situ.
Производимые операции:
- удаление лишней жидкости с помощью автоматической системы отжима
- создание жидких пленок фиксированной толщины 100-10 нм
- контроль среды в камер образца (температуры и влажности)
- регулировка температуры в камере от +4ºC до +60 ºC
- регулировка влажности в камере до 99%
- криофиксация образца в жидком этане
В качестве подложек могут быть использованы:
- ПЭМ сетки
- сапфирные диски
- любые носители которые не разрушаются при низких температурах
- Система ионной полировки Fischione NanoMill.
FISCHIONE NanoMill. Установка для создания высококачественных тонких образов для ПЭМ Высокого Разрешения.
Позволяет быстро удалять поврежденный слой и выравнивать поверхность с помощью фокусированного низкоэнергетического пучка ионов, детектор вторичных электронов позволяет визуализировать и задавать область ионной полировки.
Характеристики.
Ионный источник
- Ионный источник, комбинированный с электронно-линзовой системой
- Варьируемое напряжение 50 -2000 эВ
- Плотность тока пучка вплоть до 1мA/см2
- Диаметр пучка менее 2 мкм
- Ток пучка в диапозоне 1-2000 пА
Углы наклона образца
- в режиме просмотра СИМ -10 до +30
- в режиме полировки -10 до +10
Вакуумная система
- Полностью без масляная система откачки, турбомолекулярный насос + мембранный насос
Газовая система
- Скорость потока до 2 см3/мин.
- Интегрированный фильтр микрочастиц
- Инертный газ – аргон
Режимы полировки
- Воздействие в точке
- Сканирование выбранной области
Охлаждение
- Система, позволяющая охлаждать образец до температуры -175°С
- Время охлаждения системы 20 минут
- Время охлаждения образца 5 минут
- Интегрированная печь обеспечивает быстрое нагревание образца до комнатной температуры
Визуализация
- Детектор вторичных электронов позволяет регистрировать изображение в режиме ионного микроскопа